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何のためのテスト? : 評価で変わる学校と学び

フォーマット:
図書
責任表示:
ケネス・J.ガーゲン, シェルト・R.ギル著 ; 東村知子, 鮫島輝美訳
言語:
日本語
出版情報:
京都 : ナカニシヤ出版, 2023.3
形態:
viii, 223p ; 21cm
著者名:
書誌ID:
BD00745593
ISBN:
9784779517044 [4779517044]  CiNii Books  Webcat Plus  Google Books
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Gergen, Kenneth J., 鮫島, 輝美, 東村, 知子

ナカニシヤ出版

前田, 啓朗, 山森, 光陽(1975-), 磯田, 貴道, 広森, 友人, 三浦, 省五(1942-)

大修館書店

Griffin, Patrick E., McGaw, Barry, Care, Esther, 三宅, なほみ(1949-2015), 益川, 弘如, 望月, 俊男

北大路書房

秋田, 喜代美 (1957-), 古賀, 松香

明石書店

石井, 英真(1977-), 鈴木, 秀幸(1953-)

図書文化社

11 図書 学習評価

中島, 英博

玉川大学出版部

12 電子ブック 学習評価

田村, 学

東洋館出版社