論理とテスト
- フォーマット:
- 図書
- 責任表示:
- 樹下行三, 浅田邦博, 唐津修 [著]
- 言語:
- 日本語
- 出版情報:
- 東京 : 岩波書店, 1985.5
- 形態:
- x, 313p ; 22cm
- 著者名:
- シリーズ名:
- 岩波講座マイクロエレクトロニクス / 元岡達 [ほか] 編 ; 4 . VLSIの設計 ; 2 <BN00015819>
- 書誌ID:
- BN00059257
- ISBN:
- 9784000101844 [4000101846]
9784000101844 [4000101846] (4)
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